High resolution electron microscopy of defects in materials - symposium held April 16-18, 1990, San Francisco, California, U.S.A
- Författare
- (Editors: Robert Sinclair, David J. Smith, Ulrich Dahmen.)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Materials Research Society | cop. 1990 | USA, Pittsburgh, Pa | xi, 391 sidor. ill. 24 cm. |